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【记录】环形振荡器实验 | 深度负反馈数字芯片

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技术干货

【记录】环形振荡器实验 | 深度负反馈数字芯片

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简介

简介:
更新时间:2026-03-02 09:29:49

1. 实验背景与问题

在学习运算放大器时,我接触到“负反馈”这一概念。运放属于模拟器件,因此我进一步产生了一个问题:

如果在数字器件中引入类似的负反馈,会出现怎样的行为?

最直接的想法是:将反相器(非门)的输入端与输出端直接短接。按照理想数字逻辑,输出应当是“不确定”的;但实际数字芯片由多级晶体管网络构成,存在传播延时与模拟特性,因此结果可能会震荡或者稳定在 Output = (VCC-GND)/2

当然,奇数 2n+1 (n>=1) 个非门头尾串联组成的结构被称为 “环形振荡器”,我们这里也顺便测试一下波形。

基于这个思路,本文依次测试三种结构:

  1. 单个反相器输入/输出短接
  2. 3 级反相器环形振荡器
  3. 5 级反相器环形振荡器

实验器件为 DIP 封装 SN74LS04,供电电压为 5 V。

2. 单个反相器短接测试

2.1 原理图

pic1.png

2.2 面包板搭建

pic2.png

2.3 示波器波形

pic3.png

pic4.png

2.4 现象与结论

测试结果显示,节点电压并未稳定在中间电平,而是出现了持续振荡。波形接近正弦,主要参数如下:

  • 频率:约 55.2 MHz
  • 电压范围:约 1.68 V ~ 3.25 V

这表明即使只有一个反相器,闭环后也可能因器件延时与增益特性形成自激振荡。

3. 3 级反相器环形振荡器测试

3.1 原理图

pic5.png

3.2 面包板搭建

pic6.png

3.3 示波器波形

pic7.png

3.4 现象与结论

波形整体接近非理想锯齿/斜坡形态,频率较稳定:

  • 频率:约 17.5 MHz

与单反相器短接相比,振荡频率明显下降,符合环路级数增加后总延时增大、振荡周期拉长的预期。

4. 5 级反相器环形振荡器测试

4.1 原理图

pic8.png

4.2 面包板搭建

pic9.png

4.3 示波器波形

pic10.png

4.4 现象与结论

5 级结构的波形与 3 级结构相似,但幅度更大、频率更低:

  • 频率:约 10.7 MHz
  • 电压摆幅:接近 0 V ~ 5 V

这说明随着反相器级数增加,环路延时继续增加,振荡频率进一步降低;同时波形更接近数字电平摆动。

5. 对比汇总

结构频率(约)电压特征
单反相器短接55.2 MHz1.68 V ~ 3.25 V,近似正弦
3 级环形振荡器17.5 MHz非理想锯齿/斜坡波形
5 级环形振荡器10.7 MHz接近 0 V ~ 5 V 的全摆幅

6. 总结

本实验验证了:数字逻辑器件在闭环条件下并非只表现为理想“0/1”状态,而会呈现明显的模拟动态特性,但并不会完全稳定。即便是单个反相器输入输出短接,也可能形成高频振荡。

当反相器级数从 1 增加到 3、5 时,振荡频率依次降低,整体趋势符合“级数越多、总传播延时越大、振荡频率越低”的环形振荡器基本规律。同时,级数越高的结构的电压摆幅更接近电源轨。

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