【课程设计】带BLE的元器件特性测试仪

元器件特性测试是非常重要的技能点，在每届的全国的大学生电子设计竞赛中都会以各种形式来进行考察。

该电路参考德国开源项目AVR Transistor Tester，以及立创平台开源项目https://oshwhub.com/micespring/m328-transistor-tester，https://oshwhub.com/asxs/jing-ti-guan-ce-shi-yi 等，使用ch579芯片制作，双路ldo可选择供电。

AVR源码和二进制见附件

1 设计目的

（1）测量二极管；

（2）测量电阻；

（3）测量电容；

（4）测量三极管极性。

2 功能以及要求

（1）元器件特性测试；

（2）BLE功能；

（3）引出串口/SPI等IO口扩展；

（1）显示模块；

显示模块为三路输出:

1. 第一路为 i2c接口，由于ch579没有i2c，使用gpio口B8/B9模拟，结合3.3v和gnd驱动 一个"I2C - OLED 0.96 "模组。设计及初始化源码如下

2. 第二路为usb接口自定义协议的上位机(开发中)

3. 第三路为蓝牙接口自定义协议的全平台控制app/上位机(开发中)

（2）测量模块；

兼容AVR Transistor Tester的J1，J2，J3引脚

（3）扩展模块；

1. 预留串口rx/tx输出，b8/b9如果不用于i2c输出显示，也可作为SWD下载口，此时A7为rst功能。可以扩展出一个DAPlink仿真器

2. b8/b9如果不用于i2c输出显示， 只作为普通的i2c口，也可以与引出的spi口 SCK/MOSI/MISO/CS 4个引脚制作一个类似CH341A多功能烧录器

4 焊接调试

（1）焊接先准备好材料（具体材料见bom表），这样在焊接的时候可以有效的减少焊接调试时间

（2）焊接好typec接插件，ams1117和滤波电容后，就可以开始焊ch579。这个qfn是非对称的而且脚密，像我这样比较业余，焊接会很吃力。

插电后会显示wch信息

由于是个空芯片，在WCHISPTool里马上能识别到设备

焊接好成品后。

由于没有焊32M晶振和电容，需要改CLK_SOURCE_HSE_32MHz为CLK_SOURCE_HSI_32MHz