
超高精度电容传感器PCAP01模块
简介
微电容测量芯片PCAP01具有精度高、实时性强、稳定性好、无接触等优点,可应用于实现至高500kHZ的超高速电容测量以及数据处理。
简介:微电容测量芯片PCAP01具有精度高、实时性强、稳定性好、无接触等优点,可应用于实现至高500kHZ的超高速电容测量以及数据处理。开源协议
:GPL 3.0
(未经作者授权,禁止转载)描述
一.电容检测电路设计
- 电容检测电路主要由Pcap01以及相应的外围电路构成,其硬件电路如图1.1所示。
- Pcap01 的供电电压为3.3v,支持SPI和IIC两种通讯方式,两种通讯方式的端口是复用的,同时只能选择一种通讯方式。本测量系统采取SPI方式使Pcap01与主控芯片进行通讯,将IIC_EN端口接地即可实现SPI通讯。PC0~PC7是电容测量端口,用来连接参考电容和待测电容。为了给Pcap01提供稳定的电压,在VDD与GND之间接入去耦旁路电容。
- 根据 Pcap01 的测量原理,在进行电容测量时需要选择参考电容,并且参考电容的电容值要接近于待测电容
在本测量系统中选择1NF的贴片电容作为参考电容。

图1.1PCAP01硬件电路
二.不同电容检测
*PCAP01具有三种测量电容的方式;分别为浮动测量方式、接地测量方式以及差分测量方式。这些测量方式中,都规定C0为参考电容,因此该芯片最多支持3路浮动测量或者7路接地测量。其连接方式如下图所示:

图2.1PCAP01电容检测方案选择电路


图2.2PCAP01电容检测方案1


图2.3PCAP01电容检测方案2
- 根据PCAP01的测量原理可知,要获得精确的测量结果,就要求参考电容的精度足够高。并且当使用长线进行电容测量时,需要使用屏蔽线,并将屏蔽线缆接地。同时、PCAP01具有内部和外部补偿测量模式、启用后可以消除内部和外部电路电阻的影响。
- PCAP01支持内部和外部温度测量两种模式,在一般的应用场景下,内部的温度传感器已经符合要求。如图3-14所示为外部测量模式、该模式下需要外接一个热敏电阻PT1000以及一个超低温漂的参考电阻。如果使用内部模式、PCAP内部具有一个2800ppm/K的热敏电阻以及一个温漂接近0ppm/K的参考电阻,直接悬空PT0以及PT2REF即可。
考虑到不同供电场景,故设计了两种供电,板载5v降压

三.引脚分配
设计PCAP01验证模块时,需引出的关键引脚如下,按功能分类排列:
1. 电源
VDD:电源输入(通常3.3V)。
2. 通信接口(SPI)
SPI模式:
SCK:时钟线。
MOSI:主发从收。
MISO:主收从发。
CS:片选信号。3. 传感器输入
CIN1/CIN2:电容测量输入通道(根据需求选择引出单端或差分输入)。
4. 时钟与复位
CLK_IN(若需外部时钟):外部时钟输入。
RESET:复位引脚(低电平有效或高电平有效,需确认手册)。5. 配置与控制
MODE:工作模式选择(如睡眠模式、连续测量等)。
RANGE_SEL:量程选择引脚(通过电阻或跳线配置量程)。
REF:参考电压/电阻引脚(若需外接参考元件)。6. 状态指示(可选)
INT/DRDY:中断或数据就绪信号(用于触发主控读取数据)。
LED:调试指示灯(如电源指示、通信状态)。

图3.1官方手册
具体历程连接方式请看下图一一对应

图3.2排针引脚对应核心板接口

图3.3排针引脚对应屏幕接口

图3.4排针引脚
以下是实物展示
设计图
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暂无BOM
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